产品名称:冷热冲(chong)击(ji)试验(yan)箱(xiang)/高(gao)低(di)温(wen)变温(wen)冲(chong)试验(yan)机/高(gao)低(di)温(wen)冲(chong)击(ji)试验(yan)机
产品型号:XK-8068
符合标准:GB/T 2423.1-2001 试验A:低温试验方法
GB/T 2423.2-2001 试验B:高温试验方法
产品性能及规格:冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温和极低温的连续环境下所能承受的程度,藉以在zui短时间内试验其因热胀冷缩所引起的变化或物理伤害,适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子等材料,可作为其产品改进的依据或参考。本试验箱禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存
冷热冲击试验箱规格参数:
内容积:80L
内箱尺寸(mm)W400XH500XD400
外型尺寸(不大于)(mm)W1550*H2050*D1600
重 量:300㎏
高温(wen)室
预热温度范围(wei):+60℃~+180℃
升(sheng)温(wen)时间+60℃+180℃ ≤25min
注:升温(wen)时(shi)间为(wei)高(gao)温(wen)室单独运转时(shi)的性(xing)能
低温室(shi)
预冷温度范围:-65℃~-10℃
降温时间:+20℃ -65℃≤70min
注:降温时(shi)间为低(di)温室单独运转时(shi)的性能
试验室(试样区)
试验方式:气动风门切换2温区或3温区
温度冲击范围(+60~+150)℃/(-50~-10)℃
温度波动度:±0.5℃
温度偏差:±2.0℃
温度恢复时间
恢复条件:≤5min
试样:塑料封装集成电路(均布)
传感器位置:试样的上风侧
注: 1.测试环境条件:环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下
2.测试方法:GB/T 5170.2-1996 温度试验设备